變(bian)頻(pin)串(chuan)聯(lian)諧(xie)振(zhen)耐(nai)壓試(shi)驗裝置的原(yuan)理(li)是什麽

　　變(bian)頻(pin)串(chuan)聯(lian)諧(xie)振(zhen)耐(nai)壓試(shi)驗裝置可(ke)提(ti)供(gong)被試(shi)設(she)備(bei)高於電源(yuan)電壓Q倍的試(shi)驗電壓。由(you)於電(dian)源(yuan)容量(liang)減(jian)小(xiao)且電感(gan)、電(dian)容可(ke)做(zuo)成(cheng)分(fen)段式(shi)，使(shi)實(shi)驗設(she)備(bei)輕(qing)巧(qiao)，運輸方(fang)便(bian)，為(wei)大容量(liang)、長(chang)距(ju)離(li)現場(chang)試(shi)驗成為可(ke)能並(bing)提(ti)供很大方便(bian)，同(tong)時利(li)用試(shi)驗頻(pin)率(lv)允(yun)許在壹(yi)定(ding)可(ke)調範圍(wei)內(nei)(30~300Hz)和(he)試(shi)驗電抗器固(gu)定(ding)可(ke)調(單(dan)壹(yi)電(dian)抗器是不(bu)可(ke)調的，但(dan)是通(tong)過串聯(lian)並(bing)聯(lian)，總(zong)電(dian)感(gan)可(ke)調)的原(yuan)理(li)，使(shi)得系(xi)統(tong)的柔(rou)性(xing)大大增(zeng)加(jia)。

　　利(li)用勵(li)磁變(bian)壓器激(ji)發串聯(lian)諧(xie)振(zhen)回(hui)路，通過調節(jie)變(bian)頻(pin)電(dian)源(yuan)的輸(shu)出(chu)頻(pin)率(lv)，使(shi)得回(hui)路中的電(dian)抗器的電(dian)感(gan)L和試(shi)品電容器的電(dian)容C發生諧(xie)振，通(tong)過調整(zheng)勵磁的輸(shu)出(chu)電(dian)壓，使(shi)諧振電壓達到所(suo)要(yao)求(qiu)的試(shi)驗電壓。

　　電抗器L和(he)被試(shi)品電容C組(zu)成(cheng)的串(chuan)聯(lian)諧(xie)振(zhen)都(dou)有壹(yi)個(ge)固(gu)定(ding)的諧(xie)振(zhen)頻(pin)率(lv)F=1/(2π√L·C)當(dang)試(shi)驗頻(pin)率(lv)等(deng)於(yu)這(zhe)個頻(pin)率(lv)時，該(gai)電路(lu)發生諧(xie)振。變(bian)頻(pin)串(chuan)聯(lian)諧(xie)振(zhen)試(shi)驗裝置（串聯(lian)諧(xie)振(zhen)）運用串(chuan)並(bing)聯(lian)諧(xie)振(zhen)的原(yuan)理(li)，通過調節(jie)變(bian)頻(pin)控(kong)制(zhi)器的輸(shu)出(chu)頻(pin)率(lv)，使(shi)得回(hui)路中的電(dian)抗器的電(dian)感(gan)L和試(shi)品電容C發生諧(xie)振，諧(xie)振(zhen)電(dian)壓即為(wei)試(shi)品上所(suo)加(jia)電(dian)壓。通過調頻(pin)控(kong)制(zhi)器提(ti)供供(gong)電電源(yuan)，試(shi)驗電壓由(you)勵磁變(bian)壓器經(jing)過初(chu)步(bu)升(sheng)壓後，使(shi)高電壓加(jia)在(zai)電抗器L和(he)被試(shi)品CX上，通(tong)過改(gai)變(bian)調頻(pin)控(kong)制(zhi)器的輸(shu)出(chu)頻(pin)率(lv)，使(shi)回(hui)路處於串(chuan)聯(lian)諧(xie)振(zhen)狀態；回(hui)路的諧(xie)振(zhen)頻(pin)率(lv)取決(jue)於(yu)被(bei)試(shi)品電容CX和(he)電(dian)抗器的電(dian)感(gan)L，調節(jie)變(bian)頻(pin)控(kong)制(zhi)器的輸(shu)出(chu)電(dian)壓，使(shi)試(shi)品上高(gao)壓達到所(suo)需(xu)要的電(dian)壓值。