工作原(yuan)理(li)：
在(zai)交(jiao)流(liu)電(dian)壓作用下(xia)，電(dian)介質(zhi)要消耗(hao)部(bu)分(fen)電(dian)能(neng)，這部(bu)分(fen)電(dian)能(neng)將轉(zhuan)變(bian)為(wei)熱能(neng)產生損(sun)耗。這種能(neng)量損耗叫做電(dian)介質(zhi)的(de)損耗(hao)。當(dang)電(dian)介質(zhi)上施(shi)加交流(liu)電(dian)壓時，電(dian)介質(zhi)中(zhong)的電(dian)壓和電(dian)流(liu)間(jian)成(cheng)在(zai)相角差(cha)ψ，ψ的(de)余(yu)角δ稱(cheng)為(wei)介質(zhi)損(sun)耗角，δ的(de)正(zheng)切tgδ稱(cheng)為(wei)介質(zhi)損(sun)耗角正(zheng)切。tgδ值(zhi)是(shi)用來(lai)衡(heng)量電(dian)介質(zhi)損(sun)耗的(de)參(can)數。儀器測量線路(lu)包(bao)括壹標準(zhun)回(hui)路(lu)(Cn)和壹被(bei)試回(hui)路(lu)(Cx)。標準(zhun)回(hui)路(lu)由內(nei)置高穩定(ding)度(du)標(biao)準(zhun)電(dian)容器與測量線路(lu)組成(cheng)，被(bei)試回(hui)路(lu)由被(bei)試品和測(ce)量線路(lu)組成(cheng)。測(ce)量線路(lu)由取樣(yang)電(dian)阻(zu)與前置(zhi)放(fang)大器和A/D轉(zhuan)換(huan)器組成(cheng)。通(tong)過(guo)測(ce)量電(dian)路(lu)分(fen)別(bie)測(ce)得標(biao)準回(hui)路(lu)電(dian)流(liu)與被(bei)試回(hui)路(lu)電(dian)流(liu)幅(fu)值(zhi)及其(qi)相位(wei)差(cha)，再(zai)由(you)數字(zi)信號處(chu)理(li)器運用數字(zi)化實(shi)時采集(ji)方法，通(tong)過(guo)矢(shi)量運算得出試品的電(dian)容值和介質(zhi)損(sun)耗正(zheng)切值(zhi)。
抗(kang)幹擾介質(zhi)損(sun)耗測(ce)試儀的(de)功能(neng)特(te)點：
1、儀器進行(xing)故障分(fen)析。
2、抗幹(gan)擾能(neng)力強，在500KV(甚至(zhi)更(geng)高(gao))電(dian)壓等(deng)級下的(de)變(bian)電(dian)站的現場(chang)也能(neng)保持(chi)結果(guo)穩定(ding)、可(ke)靠(kao)，不(bu)僅(jin)能(neng)單頻(pin)測試，也可(ke)實(shi)現(xian)45/55Hz雙(shuang)頻(pin)測試。
3、儀器的試驗電(dian)壓實行(xing)“緩升緩(huan)降(jiang)”，有(you)效(xiao)的(de)防(fang)止“容升(sheng)”效(xiao)應(ying)，保(bao)護(hu)試品和儀(yi)器的安全。
4、變頻(pin)抗幹擾介質(zhi)損(sun)耗測(ce)試儀儀(yi)器實現過流(liu)過(guo)載的(de)預(yu)前保(bao)護(hu)，能(neng)迅速(su)切斷試驗電(dian)源(yuan)，以保護(hu)試品和儀(yi)器的安全。
5、儀器測試電(dian)纜(lan)采用矽(gui)橡膠(jiao)以及其(qi)他(ta)特(te)種絕緣(yuan)材料復(fu)合制作而(er)成(cheng)，輕便柔(rou)軟，10KV電(dian)壓等(deng)級下可(ke)拖(tuo)地(di)使用。
6、儀(yi)器附帶電(dian)子(zi)萬年歷(li)和(he)大容量存儲(chu)空間(jian)，可(ke)記憶100組測(ce)試數據。
7、儀(yi)器帶有標準(zhun)的(de)RS232接(jie)口(kou)，儀(yi)器內大量測試數據可(ke)上傳給(gei)大(da)型(xing)計算機(ji)使用。
關(guan)註(zhu)微(wei)信