回(hui)路(lu)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀可(ke)采用(yong)載面細的(de)測試(shi)線，大大減輕(qing)了(le)現場(chang)測試(shi)人員(yuan)的(de)勞動(dong)強度(du)。測(ce)試(shi)過(guo)程全(quan)部由單片控制自動實(shi)施，精(jing)度(du)高(gao)，復(fu)測(ce)性(xing)好，單按(an)鍵操(cao)作，簡單易(yi)行，測(ce)試(shi)數(shu)據液晶(jing)顯(xian)示(shi)，結(jie)果(guo)打(da)印(yin)。
若用傳統的(de)直流雙臂電橋(qiao)對其(qi)進(jin)行測(ce)量，由於此(ci)時(shi)通(tong)過(guo)的(de)電流壹般是幾(ji)個安(an)培，所以在(zai)斷(duan)路(lu)器上(shang)產生(sheng)的(de)電壓降(jiang)就很小，這樣(yang)對測(ce)量壓降(jiang)儀器的(de)靈敏度(du)要(yao)求(qiu)就會很高，而(er)且幾(ji)個安(an)培的(de)電流不(bu)能(neng)消(xiao)除觸(chu)頭(tou)上(shang)的(de)氧(yang)化膜(mo)，所以不(bu)僅(jin)使測(ce)量難(nan)度(du)增大。
如果(guo)使用大(da)恒流源(yuan)的(de)微歐(ou)儀進(jin)行測(ce)量，雖然能夠降(jiang)低測(ce)量壓降(jiang)儀器的(de)靈敏度(du)要(yao)求(qiu)，還(hai)可(ke)容易(yi)的(de)燒壞(huai)觸(chu)頭(tou)上(shang)的(de)氧(yang)化膜(mo)，但是因(yin)為(wei)測(ce)量時，通(tong)電時(shi)間(jian)較長，被(bei)測電(dian)阻(zu)的(de)溫度(du)隨(sui)之(zhi)升高，出(chu)現電(dian)阻(zu)的(de)負載效應(ying)，這(zhe)樣(yang)也(ye)會產生(sheng)較(jiao)大(da)的(de)影(ying)響，從(cong)而使(shi)測量結果(guo)有壹定(ding)的(de)偏差。
回(hui)路(lu)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀各(ge)元(yuan)件的(de)設(she)計(ji)說明：
1、設(she)計(ji)任務(wu)的(de)確(que)定(ding)：主要(yao)包(bao)括電源(yuan)的(de)選(xuan)擇(ze),集(ji)成運(yun)放及A/D轉(zhuan)換電路(lu)的(de)應(ying)用(yong),以及單片機(ji)的(de)應(ying)用(yong),包(bao)含(han)測(ce)量和采(cai)集(ji),液晶(jing)顯(xian)示(shi)模(mo)塊的(de)使用(yong)，要求可(ke)以打(da)印(yin)輸(shu)出，並(bing)用Pro完(wan)成(cheng)電子電路(lu)，設(she)計(ji)軟(ruan)件完(wan)成(cheng)電路的(de)計(ji)算機(ji)輔助設(she)計(ji)。
2、硬件電(dian)路(lu)的(de)設(she)計(ji)：在(zai)了(le)解(jie)了(le)回(hui)路(lu)電(dian)阻(zu)測(ce)量儀的(de)設(she)計(ji)任務(wu)和(he)功(gong)能(neng)之後，我(wo)們(men)將(jiang)回(hui)路(lu)電(dian)阻(zu)測(ce)量儀的(de)設(she)計(ji)任務(wu)按(an)功(gong)能(neng)模塊(kuai)分解(jie)成若幹個課題(ti)，再(zai)逐壹(yi)進(jin)行具(ju)體的(de)設(she)計(ji)。包(bao)括單片機(ji)的(de)選(xuan)擇(ze)、單片機(ji)復位電(dian)路(lu)的(de)設(she)計(ji)、單片機(ji)時鐘電路(lu)的(de)設(she)計(ji)、單片機(ji)存儲器擴(kuo)展設(she)計(ji)、單片機(ji)I/O擴(kuo)展設(she)計(ji)等。
3、測(ce)量部分（數(shu)據采(cai)集(ji)系統）的(de)設(she)計(ji)：在(zai)充(chong)分考慮了(le)各(ge)種(zhong)因(yin)素(su)選(xuan)擇(ze)了(le)單片機(ji)之後，還(hai)要(yao)進(jin)行輸(shu)入(ru)輸(shu)出接(jie)口和(he)其(qi)他功(gong)能(neng)組(zu)件的(de)設(she)計(ji)。從(cong)前置(zhi)放大(da)器到(dao)采(cai)樣(yang)保(bao)持放(fang)大(da)器，再(zai)到(dao)數(shu)模(mo)轉換器的(de)選(xuan)擇(ze)。
4、人-機(ji)接(jie)口電(dian)路(lu)設(she)計(ji)：智(zhi)能(neng)儀表通(tong)過(guo)人-機(ji)部件和(he)設(she)備(bei)接(jie)收各(ge)種(zhong)命令及數(shu)據，並(bing)且給出(chu)運(yun)算和(he)處(chu)理結果(guo)。人-機(ji)部件通(tong)常(chang)有鍵(jian)盤、顯(xian)示(shi)器等(deng)。
5、系統軟(ruan)件的(de)總體設(she)計(ji)：，根(gen)據硬件的(de)設(she)計(ji)內(nei)容我(wo)們(men)設(she)計(ji)相應(ying)的(de)軟(ruan)件。軟(ruan)件設(she)計(ji)分為(wei)六大模(mo)塊(kuai)：參(can)數(shu)設(she)置(zhi)模塊(kuai)、數(shu)據采(cai)集(ji)模塊(kuai)、數(shu)據分析(xi)和處(chu)理模(mo)塊、控制輸(shu)出模(mo)塊、數(shu)據管理模(mo)塊(kuai)。以(yi)此(ci)實(shi)現回(hui)路(lu)電(dian)阻(zu)測(ce)試儀硬件各(ge)部分的(de)功(gong)能(neng)。
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