產品(pin)中(zhong)心(xin)
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簡(jian)要描(miao)述:工(gong)頻耐(nai)壓試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)主要用(yong)於(yu)檢(jian)驗各(ge)種(zhong)絕(jue)緣材料、絕(jue)緣結(jie)構(gou)和電工產品(pin)等耐(nai)受(shou)工(gong)頻電壓的(de)絕(jue)緣水平(ping),也(ye)作為變(bian)壓(ya)器(qi)、互感(gan)器(qi)、避(bi)雷(lei)器(qi)等試(shi)品(pin)的(de)無局部放(fang)電工頻試驗電源(yuan)。
產品(pin)型(xing)號(hao):
廠商性(xing)質(zhi):生(sheng)產廠家(jia)
更新(xin)時(shi)間:2025-11-03
訪 問 量:2706詳細(xi)介紹
工頻耐(nai)壓試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)是根(gen)據國(guo)家(jia)行(xing)業(ye)試(shi)驗(yan)標(biao)準(zhun)而設計的(de)試(shi)驗(yan)設(she)備,其(qi)安(an)全(quan)可靠(kao)、功(gong)能強大、使(shi)用(yong)方便(bian)、維護簡(jian)單(dan),主要用(yong)於(yu)對(dui)各(ge)種(zhong)電器(qi)產品(pin)、電氣元(yuan)件、絕(jue)緣材料等進行規定(ding)電壓下的(de)絕(jue)緣強度(du)試驗(yan),以(yi)考(kao)核產品(pin)的(de)絕(jue)緣水平(ping),發(fa)現(xian)被試(shi)品(pin)的(de)絕(jue)緣缺(que)陷(xian),衡(heng)量(liang)過(guo)電壓的(de)能(neng)力(li),是電力運(yun)行(xing)相(xiang)關(guan)部門、電工電器(qi)制(zhi)造(zao)企業(ye)、冶(ye)金(jin)、煤(mei)礦、電氣化鐵(tie)路相(xiang)關(guan)部門、科(ke)研(yan)單(dan)位(wei)及(ji)高等院校(xiao)等需(xu)要耐(nai)壓試(shi)驗(yan)設(she)備的(de)產品(pin)。
1)電壓高(gao):試(shi)驗變(bian)壓(ya)器(qi)的(de)壹(yi)次(ci)電壓為(wei)220V或380V,但(dan)單(dan)臺(tai)試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)二(er)次(ci)電壓則(ze)常(chang)達數(shu)千(qian)伏(fu)至數(shu)萬伏(fu)。二次電壓超(chao)過750kV的(de)試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi),通(tong)常(chang)采(cai)用多臺(tai)串(chuan)級式結(jie)構(gou)。
2)電流小(xiao):試驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)的(de)額(e)定(ding)電流實(shi)際(ji)上是被試(shi)品(pin)的(de)電容電流,所(suo)以(yi)壹(yi)般(ban)小(xiao)於(yu)1A。但(dan)用於(yu)電纜和大型(xing)電機(ji)試驗(yan)、外(wai)絕(jue)緣汙穢試(shi)驗(yan)、線路(lu)電暈(yun)試驗(yan)等項目的(de)試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi),二(er)次(ci)電流可(ke)達數(shu)安(an)。
3)工作時(shi)間短:因(yin)被試(shi)產品(pin)的(de)耐(nai)壓時(shi)間短,所以(yi)試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)除了(le)用(yong)於(yu)外絕(jue)緣汙穢試(shi)驗(yan)、線路(lu)電暈(yun)試驗(yan)、電纜試(shi)驗(yan)外,壹般(ban)均為(wei)0.5h或1h的(de)短(duan)時(shi)工(gong)作制(zhi)。
4)試驗變(bian)壓(ya)器(qi)壹(yi)般(ban)為單(dan)相(xiang)、戶內(nei)裝置(也(ye)有(you)做成(cheng)戶(hu)外裝置的(de)):均(jun)為(wei)油浸自(zi)冷(leng)式結(jie)構(gou),繞(rao)組絕(jue)緣層較(jiao)厚(hou),高(gao)壓繞(rao)組通(tong)常(chang)壹端(duan)接(jie)地。
◆ 電壓、電流、時(shi)間、狀態信息及(ji)提示(shi)信息等數(shu)據4.7尺大屏(ping)液晶(jing)顯(xian)示(shi),讀數(shu)清晰(xi)、直觀;
◆ 全中(zhong)文(wen)界(jie)面,操(cao)作簡單(dan)明(ming)了(le),可(ke)適應(ying)多種(zhong)應(ying)用場(chang)合;
◆ 輕觸式按(an)鍵操(cao)作,所有(you)功(gong)能均可通過按(an)鍵設(she)定(ding),提高了(le)產品(pin)的(de)安(an)全(quan)性(xing)、可(ke)靠性(xing);
◆ 全數(shu)字式校(xiao)準方式,摒棄了(le)陳(chen)舊(jiu)的(de)電位器(qi)調(tiao)整(zheng),現場(chang)使用極(ji)為方便(bian),精(jing)度(du)易於(yu)控(kong)制(zhi)(此(ci)功(gong)能帶(dai)密碼(ma)保(bao)護);
◆ 按(an)鍵直(zhi)接(jie)設(she)定(ding)試驗變(bian)壓(ya)器(qi)變(bian)比(此(ci)功(gong)能帶(dai)密碼(ma)保(bao)護),在(zai)連(lian)接(jie)不(bu)同電壓等級(ji)的(de)試(shi)驗(yan)器(qi)時(shi),應(ying)用靈(ling)活(huo)自(zi)如,真正(zheng)做(zuo)到(dao)壹個(ge)控(kong)制(zhi)箱可(ke)與(yu)多(duo)臺(tai)變(bian)壓(ya)器(qi)相(xiang)互配套(tao);
◆ 狀態提醒(xing)功(gong)能,全中(zhong)文(wen)引(yin)導式操(cao)作,即使(shi)在(zai)無說明書的(de)情(qing)況(kuang)下亦(yi)可熟(shu)練(lian)操控(kong);
◆ 試驗過程(cheng)中(zhong),屏(ping)上有(you)閃爍(shuo)的(de)高(gao)壓(ya)符(fu)號(hao)顯(xian)示(shi),時(shi)刻(ke)提(ti)醒(xing)操作人(ren)員(yuan)註意安(an)全(quan);
◆ 試驗結(jie)果顯(xian)示(shi)功(gong)能,可自(zi)動判(pan)斷試(shi)驗結(jie)果(試(shi)驗通(tong)過或試驗失敗(bai)),並(bing)能可(ke)靠(kao)記錄(lu)試(shi)品過電流、閃(shan)洛或擊穿(chuan)時(shi)的(de)電壓;
◆ 試驗結(jie)果聲(sheng)音報警(jing)功(gong)能,試驗通過或試驗失敗(bai)時(shi),設(she)備會發(fa)出(chu)不(bu)同的(de)報警(jing)聲(sheng)音,試驗人(ren)員(yuan)可直接(jie)由報警(jing)聲(sheng)音辨認(ren)試(shi)驗(yan)的(de)結(jie)果;
①輸出(chu)電壓波形(xing)。試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)輸(shu)出(chu)電壓波形(xing)應(ying)盡(jin)量(liang)接(jie)近(jin)正(zheng)弦波。為(wei)了(le)減(jian)少(shao)由於(yu)空(kong)載(zai)電流的(de)諧(xie)波分(fen)量通(tong)過(guo)調(tiao)壓器(qi)和變(bian)壓(ya)器(qi)的(de)阻(zu)抗(kang)後(hou),產生(sheng)諧(xie)波電壓而引(yin)起電壓波形(xing)畸(ji)變(bian),磁(ci)通密度應(ying)選在(zai)鐵心(xin)磁(ci)化曲(qu)線的(de)直(zhi)線(xian)段;同(tong)時(shi)要選(xuan)用(yong)波形(xing)畸(ji)變(bian)小(xiao)的(de)調(tiao)壓(ya)設(she)備,必(bi)要時(shi)可(ke)加設濾(lv)波裝(zhuang)置。
②阻抗電壓。試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)的(de)二(er)次(ci)電流壹(yi)般(ban)為容性(xing)電流,當(dang)二(er)次電流流(liu)經(jing)調壓器(qi)和試(shi)驗變(bian)壓(ya)器(qi)的(de)阻(zu)抗(kang)時(shi),將(jiang)導致輸出(chu)電壓超(chao)過由電壓比所確定(ding)的(de)數(shu)值(zhi),所以(yi)試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)的(de)阻(zu)抗(kang)電壓不(bu)宜(yi)太大,否則(ze)可能影響(xiang)測試(shi)結(jie)果的(de)準(zhun)確性(xing),同(tong)時(shi)還(hai)會降低試(shi)驗(yan)設備的(de)短(duan)路(lu)容量(liang)。但(dan)如阻抗(kang)電壓太小(xiao),被試(shi)品(pin)擊穿(chuan)或閃絡時(shi),短(duan)路(lu)電流可(ke)能(neng)增大。單(dan)臺(tai)試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)的(de)阻(zu)抗(kang)電壓壹(yi)般(ban)為4.5~10%,組成(cheng)多(duo)臺串(chuan)級時(shi),則(ze)可達30~40%
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