工頻(pin)耐壓(ya)試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)

工頻(pin)耐壓(ya)試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)使用(yong)方(fang)法(fa)：

工頻(pin)耐壓(ya)試(shi)驗(yan)中(zhong)限流(liu)電(dian)阻(zu)R1應根據試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)的額定容量來(lai)選擇。如高(gao)壓(ya)側(ce)額定輸(shu)出電(dian)流在(zai) 100-300MA時，可(ke)取0.5-1Ω/V（試(shi)驗(yan)電壓(ya)）；高(gao)壓(ya)側(ce)額定輸(shu)出電(dian)流為(wei)1A以上(shang)時，可(ke)取1Ω/V（試(shi)驗(yan)電壓(ya)）。常(chang)用(yong)水(shui)電(dian)陰(yin)作為(wei)限流電(dian)阻(zu)，管於(yu)長度(du)可(ke)按150KV/m考(kao)慮(lv)，管(guan)子和(he)粗細(xi)應具有足(zu)夠(gou)的(de)熱容量（水(shui)阻(zu)液(ye)配制方(fang)法(fa)：用(yong)蒸(zheng)餾水(shui)加(jia)入(ru)適(shi)量硫酸銅配制成各種(zhong)不同(tong)的陰(yin)值）。

球(qiu)間(jian)隙(xi)及(ji)保護(hu)電(dian)阻(zu)：當電(dian)壓(ya)超(chao)過球(qiu)間(jian)隙(xi)整定值(zhi)時（壹般(ban)取(qu)試(shi)驗(yan)電壓(ya)的(de)110%-120%）球(qiu)間(jian)隙(xi)放(fang)電，對(dui)被(bei)試(shi)品(pin)起到保護(hu)作用(yong)。球(qiu)間(jian)隙(xi)保護(hu)電(dian)阻(zu)可(ke)按1Ω/V（試(shi)驗(yan)電壓(ya)）選(xuan)取。

在(zai)工(gong)頻(pin)耐壓(ya)試(shi)驗(yan)中(zhong)，低壓(ya)側(ce)測(ce)量電壓(ya)（儀(yi)表電壓(ya)）不(bu)是(shi)非常(chang)準確的(de)，其原(yuan)因是(shi)由(you)於(yu)試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)存在(zai)著漏抗，在(zai)這(zhe)上(shang)個(ge)漏抗上(shang)必然存在(zai)著壓(ya)降(jiang)或容升，使試(shi)品(pin)上(shang)的電(dian)壓(ya)低於(yu)或(huo)高(gao)於(yu)低壓(ya)側(ce)測(ce)量電壓(ya)表(biao)上(shang)反映(ying)出來(lai)的電壓(ya)。工(gong)頻(pin)耐壓(ya)試(shi)驗(yan)時，被(bei)試(shi)品(pin)上(shang)的電(dian)壓(ya)高(gao)於(yu)試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)的輸(shu)出電(dian)壓(ya)，也(ye)就是(shi)所謂(wei)容升現象(xiang)。感(gan)應耐壓(ya)試(shi)驗(yan)時。試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)的漏抗必(bi)須(xu)存在(zai)著壓(ya)降(jiang)。為了(le)準確測(ce)量被(bei)試(shi)品(pin)上(shang)所施加(jia)電(dian)壓(ya)，因(yin)此(ci)常(chang)在(zai)高(gao)壓(ya)側(ce)接(jie)入(ru)RCF阻(zu)容分(fen)壓(ya)器(qi)來(lai)測(ce)量電壓(ya)。

工頻(pin)耐壓(ya)試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)是(shi)根據國家行(xing)業(ye)試(shi)驗(yan)標準而設(she)計(ji)的(de)試(shi)驗(yan)設(she)備(bei)，其安(an)全可(ke)靠、功(gong)能(neng)強大、使用(yong)方(fang)便、維護(hu)簡單(dan)，主要(yao)用(yong)於(yu)對(dui)各種(zhong)電(dian)器產(chan)品、電(dian)氣(qi)元件(jian)、絕(jue)緣材料(liao)等進(jin)行(xing)規(gui)定電(dian)壓(ya)下(xia)的絕(jue)緣強度(du)試(shi)驗(yan)，以考核產(chan)品的(de)絕(jue)緣水(shui)平(ping)，發(fa)現(xian)被(bei)試(shi)品(pin)的絕(jue)緣缺(que)陷(xian)，衡(heng)量過電(dian)壓(ya)的(de)能(neng)力(li)，是(shi)電力(li)運行(xing)相關部門(men)、電(dian)工電(dian)器制造企業、冶金、煤礦(kuang)、電氣(qi)化(hua)鐵(tie)路相關部門(men)、科(ke)研單(dan)位(wei)及(ji)高(gao)等院(yuan)校等需要(yao)耐壓(ya)試(shi)驗(yan)設(she)備(bei)的產(chan)品。

特(te)點:

1)電壓(ya)高(gao)：試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)的壹次(ci)電(dian)壓(ya)為(wei)220V或380V，但單臺(tai)試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)二(er)次(ci)電(dian)壓(ya)則(ze)常(chang)達數(shu)千伏(fu)至數(shu)萬伏。二(er)次(ci)電(dian)壓(ya)超(chao)過750kV的(de)試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)，通常(chang)采(cai)用(yong)多(duo)臺串級(ji)式(shi)結(jie)構。

2)電流小：試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)的額定電(dian)流(liu)實際(ji)上(shang)是(shi)被(bei)試(shi)品(pin)的電容電(dian)流(liu)，所以壹般(ban)小(xiao)於(yu)1A。但(dan)用(yong)於(yu)電(dian)纜和(he)大型(xing)電機試(shi)驗(yan)、外絕(jue)緣汙穢試(shi)驗(yan)、線(xian)路電暈(yun)試(shi)驗(yan)等項(xiang)目的試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)，二(er)次(ci)電(dian)流可(ke)達數(shu)安。

3)工作時間(jian)短(duan)：因(yin)被(bei)試(shi)產(chan)品的耐壓(ya)時間(jian)短(duan)，所以試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)除了(le)用(yong)於(yu)外絕(jue)緣汙穢試(shi)驗(yan)、線(xian)路電暈(yun)試(shi)驗(yan)、電纜試(shi)驗(yan)外，壹般(ban)均(jun)為0.5h或(huo)1h的短(duan)時工(gong)作制(zhi)。

4)試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)壹般(ban)為(wei)單相、戶內(nei)裝(zhuang)置(zhi)（也(ye)有(you)做成戶外裝(zhuang)置的(de)）：均(jun)為油(you)浸自(zi)冷式(shi)結(jie)構，繞(rao)組(zu)絕(jue)緣層較厚，高(gao)壓(ya)繞(rao)組(zu)通(tong)常(chang)壹端(duan)接(jie)地(di)。

技術(shu)要(yao)求:

①輸(shu)出電(dian)壓(ya)波形。試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)輸(shu)出電(dian)壓(ya)波形應盡量接近正弦(xian)波。為了(le)減(jian)少由(you)於(yu)空載(zai)電(dian)流的諧波分(fen)量通過(guo)調壓(ya)器(qi)和(he)變(bian)壓(ya)器(qi)的阻(zu)抗後(hou)，產生諧波電壓(ya)而(er)引(yin)起電壓(ya)波形畸(ji)變(bian)，磁通密度(du)應選在(zai)鐵(tie)心磁化(hua)曲線(xian)的直(zhi)線(xian)段；同(tong)時要(yao)選用(yong)波形畸(ji)變(bian)小的調壓(ya)設(she)備(bei)，必要(yao)時可(ke)加設(she)濾波裝置(zhi)。

②阻(zu)抗電(dian)壓(ya)。試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)的二(er)次(ci)電(dian)流壹般(ban)為(wei)容性(xing)電(dian)流(liu)，當(dang)二(er)次(ci)電(dian)流流經調壓(ya)器(qi)和(he)試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)的阻(zu)抗時，將(jiang)導致輸(shu)出電(dian)壓(ya)超(chao)過由(you)電壓(ya)比(bi)所確定的(de)數(shu)值，所以試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)的阻(zu)抗電(dian)壓(ya)不(bu)宜太大，否則(ze)可(ke)能(neng)影響(xiang)測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)的準確性(xing)，同(tong)時還會(hui)降(jiang)低試(shi)驗(yan)設(she)備(bei)的短(duan)路容量。但如阻(zu)抗電(dian)壓(ya)太(tai)小，被(bei)試(shi)品(pin)擊穿(chuan)或閃(shan)絡(luo)時，短(duan)路電流(liu)可(ke)能(neng)增大。單臺(tai)試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器(qi)的阻(zu)抗電(dian)壓(ya)壹般(ban)為(wei)4.5~10%，組成多臺(tai)串級(ji)時，則(ze)可(ke)達30~40%