有(you)載開關測試(shi)儀

有(you)載開關測試(shi)儀主要特(te)點

1、高精準(zhun)度測(ce)量：有(you)載分(fen)接開(kai)關測試(shi)儀設計*中(zhong)華人(ren)民(min)共(gong)和(he)國(guo)電力(li)行(xing)業(ye)標準(zhun)之高電壓測試(shi)設備(bei)，通(tong)用技(ji)術條件(jian)DL/T846、8-2004，采用高速ARM處(chu)理器(qi)和(he)6通(tong)道高分(fen)辨率同(tong)步A/D轉(zhuan)換器(qi)，四(si)線電阻(zu)測(ce)量(liang)方(fang)式(shi)，消(xiao)除(chu)引線電阻(zu)，實(shi)現(xian)了(le)高精度的標準(zhun)測量(liang)。

2、光(guang)線示波(bo)功能(neng)：分(fen)三(san)通(tong)道可(ke)同(tong)時(shi)記錄A、B、C三(san)相(xiang)，儀器(qi)可(ke)自動(dong)捕捉(zhuo)和(he)顯示(shi)過渡(du)過(guo)程(cheng)中(zhong)過渡(du)電(dian)阻(zu)及(ji)時(shi)間(jian)跳(tiao)變的過程(cheng)。能(neng)在復(fu)雜(za)的(de)環(huan)境(jing)下(xia)正常工作，在精度和(he)智能(neng)化(hua)方面(mian)上遠(yuan)比(bi)光(guang)線示波(bo)器(qi)強(qiang)。

3、綜合測(ce)試(shi)能(neng)力：在壹(yi)臺(tai)儀器(qi)內(nei)可實(shi)現對(dui)有(you)載分(fen)接開(kai)關各種(zhong)參(can)數(shu)的(de)全面(mian)測量(liang)。如開(kai)關選(xuan)擇、切(qie)換全過(guo)程(cheng)中(zhong)有(you)無(wu)開(kai)斷(duan)點、過渡(du)波(bo)形(xing)、過渡(du)時(shi)間、過(guo)渡(du)電(dian)阻(zu)、三(san)相(xiang)同(tong)期(qi)性(xing)等。還(hai)可進壹(yi)步詳(xiang)細分(fen)析波(bo)形(xing)中的各時(shi)間(jian)段(duan)的時(shi)間及(ji)阻(zu)值。

4、人(ren)機控(kong)制(zhi)完(wan)善(shan)：選(xuan)用320×240（QVGA）高分(fen)辨率顯示(shi)器(qi)，在高速微(wei)處(chu)理器(qi)的(de)驅(qu)動(dong)下(xia)，實現(xian)了(le)完(wan)善(shan)的人(ren)-機界(jie)面(mian)，全漢(han)字(zi)提(ti)示(shi)，高速打(da)印(yin)，輸出(chu)結(jie)果(guo)直觀(guan)快(kuai)捷。內(nei)置(zhi)幫(bang)助(zhu)菜(cai)單，基本(ben)上(shang)可使操作者不(bu)看(kan)說(shuo)明(ming)書(shu)的條(tiao)件下(xia)實現(xian)操(cao)作。

5、USB貯(zhu)存(cun)管(guan)理：儀器(qi)內(nei)部可(ke)存(cun)儲(chu)100條(tiao)測(ce)試(shi)記(ji)錄。還可以(yi)連接(jie)U盤(pan)進(jin)行數(shu)據(ju)轉存(cun)，文件系統與(yu)標準(zhun)PC*兼容。

有(you)載開關測試(shi)儀技(ji)術指標(biao)

符合DL/T846.8-2004標準(zhun)

1、三(san)路(lu)獨(du)立(li)測試(shi)電(dian)源(yuan)，輸出(chu)電流I≥1A；

2、儀器(qi)采(cai)樣率10KHZ；

3、單次(ci)波(bo)形(xing)zui大存(cun)儲(chu)時(shi)間(jian)268.8毫(hao)秒；

4、過(guo)渡(du)電(dian)阻(zu)測(ce)量(liang)範(fan)圍：0.1-200Ω；

5、電阻(zu)測(ce)量(liang)精度：0.1～1 Δ R≤0.1Ω; 1Ω～200Ω(（不(bu)含(han)1Ω）ΔR≤±1%。

6、時間(jian)測(ce)量(liang)精度：ΔT≤0.1mS；

7、顯示(shi)器(qi)：320*240；

8、處(chu)理部分(fen)：高速32位(wei)微處理器(qi)，儀器(qi)能(neng)保存(cun)100條數(shu)據(ju)；`

9、高速12位(wei)6通(tong)道同(tong)步A/D轉(zhuan)換器(qi)，zui高采樣(yang)率可(ke)達(da)250KHZ；

10、電源(yuan)：220V±10%，功率：200W。

11、主機尺寸：380mm×262mm×120mm。

相(xiang)關(guan)說(shuo)明(ming)

1、在實(shi)際測量(liang)時所(suo)測(ce)波(bo)形(xing)往往比(bi)理論波(bo)形(xing)差，尤(you)其(qi)在有(you)繞(rao)組(zu)測(ce)量(liang)時，這(zhe)是(shi)因(yin)為在測(ce)量(liang)時(shi)變(bian)壓器(qi)繞(rao)組的(de)電感(gan)、電容參數(shu)造(zao)成的振蕩信(xin)號(hao)，以(yi)及(ji)分(fen)接開(kai)關的機械(xie)振(zhen)動(dong)，使所測(ce)波(bo)形(xing)呈(cheng)現出(chu)壹(yi)些波(bo)動(dong)，這(zhe)種(zhong)情(qing)況(kuang)在實(shi)際測試(shi)時(shi)是(shi)無(wu)法避免的(de)。有(you)些新開關(guan)由(you)於開關(guan)接觸(chu)點上保護油(you)膜(mo)在低(di)電壓下(xia)呈(cheng)顯現(xian)絕(jue)緣(yuan)性(xing)；以及(ji)使用年限(xian)較長(chang)，開(kai)關接(jie)觸(chu)點有(you)氧(yang)化(hua)現象的開關，在測(ce)試(shi)時(shi)波(bo)形(xing)可能(neng)，這(zhe)也(ye)屬正常現象。可以在該檔上(shang)多切(qie)換幾(ji)次(ci)開(kai)關(guan)，使氧化(hua)層(ceng)變(bian)薄，增加接觸(chu)面(mian)積，再(zai)用儀器(qi)進(jin)行測(ce)試(shi)，可(ke)能(neng)會(hui)避免這(zhe)種(zhong)現(xian)象。

2、還有(you)壹(yi)種(zhong)現(xian)象就是超(chao)量(liang)程(cheng)測(ce)試(shi)，如(ru)測(ce)試(shi)開(kai)關(guan)的(de)過渡(du)電(dian)阻(zu)大(da)於(yu)9Ω，而(er)選(xuan)量(liang)程(cheng)為(wei)9Ω時進(jin)行測(ce)量，結(jie)果(guo)會(hui)出(chu)現如圖二(er)十(shi)壹(yi)所(suo)示的波(bo)形(xing)。 這(zhe)時(shi)光(guang)標1所(suo)指示(shi)處的過渡(du)電(dian)阻(zu)有(you)可(ke)能(neng)正常，光(guang)標2所(suo)指示(shi)處的過渡(du)電(dian)阻(zu)顯示(shi)為50.0Ω，這(zhe)是(shi)由(you)於超(chao)量(liang)程(cheng)所(suo)致，只(zhi)需把(ba)量程(cheng)改為(wei)30Ω再(zai)進行測(ce)試(shi)即(ji)可。也(ye)可能(neng)過渡(du)過(guo)程(cheng)中(zhong)間過(guo)程(cheng)為(wei)平直線均為50.0Ω，也(ye)是超(chao)量(liang)程(cheng)所(suo)至(zhi)，則也(ye)只(zhi)需改變(bian)量(liang)程(cheng)為(wei)30Ω即(ji)可。

3、當(dang)進行(xing)無(wu)繞(rao)組測量(liang)，沒有(you)變(bian)壓器(qi)繞(rao)組的(de)分(fen)布參(can)數(shu)影(ying)響(xiang)，波(bo)形(xing)會(hui)比(bi)較接(jie)近(jin)理論波(bo)形(xing)，當(dang)用戶所(suo)測(ce)波(bo)形(xing)曲(qu)線不(bu)平(ping)直時，多數(shu)情(qing)況為機械(xie)傳動(dong)原(yuan)因(yin)，並不(bu)是(shi)開(kai)關(guan)或(huo)儀器(qi)測(ce)試(shi)有(you)問(wen)題。如(ru)出(chu)現斷(duan)點，斷點處波(bo)形(xing)回到(dao)底部(bu)，則要謹(jin)慎(shen)對(dui)待。

4、有(you)時(shi)在開(kai)關(guan)切(qie)換時(shi)有(you)瞬(shun)間(jian)斷(duan)點，這(zhe)時(shi)波(bo)形(xing)即(ji)被(bei)壓成壹(yi)條(tiao)近似平直的直線，這(zhe)種(zhong)情(qing)況(kuang)是本(ben)儀器(qi)處(chu)理所致。當(dang)移動(dong)光(guang)標2讀(du)三(san)相(xiang)波(bo)形(xing)曲(qu)線各點時，同(tong)樣(yang)能(neng)看到(dao)切(qie)換各(ge)時(shi)段(duan)電阻(zu)的(de)變(bian)化(hua)，但這(zhe)種(zhong)情(qing)況(kuang)重新測試(shi)。 當(dang)波(bo)形(xing)出現異常的下(xia)跳點並且(qie)持(chi)續時(shi)間在2ms以(yi)上(shang)時(shi)，應(ying)檢查(zha)該處(chu)的電阻(zu)值，如果(guo)電阻(zu)值超(chao)過(guo)50Ω，很(hen)可能(neng)存(cun)在接(jie)觸(chu)不(bu)良或(huo)有(you)松(song)動(dong)處，這(zhe)時(shi)，應反復(fu)進(jin)行(xing)多次(ci)測(ce)試(shi)，以(yi)便判(pan)斷。