電力(li)有載(zai)開關(guan)測試儀

有載(zai)開關(guan)測試儀相關(guan)說(shuo)明(ming)

1、在(zai)實(shi)際測量時所測波(bo)形(xing)往(wang)往(wang)比(bi)理論波形(xing)差，尤其(qi)在(zai)有繞(rao)組測量時，這(zhe)是(shi)因(yin)為在(zai)測(ce)量時變(bian)壓(ya)器(qi)繞(rao)組的電感(gan)、電容參數造(zao)成(cheng)的振蕩(dang)信(xin)號(hao)，以(yi)及(ji)分(fen)接開關(guan)的機械振動(dong)，使所測波(bo)形(xing)呈現(xian)出(chu)壹(yi)些(xie)波動(dong)，這種(zhong)情(qing)況(kuang)在(zai)實(shi)際測試時是無法(fa)避免的。有些(xie)新開關(guan)由於開關(guan)接觸點(dian)上(shang)保(bao)護(hu)油(you)膜在(zai)低(di)電壓下呈顯現絕緣(yuan)性；以(yi)及(ji)使用年限較長(chang)，開關(guan)接觸點(dian)有氧(yang)化現(xian)象(xiang)的開關(guan)，在(zai)測(ce)試時波形可能(neng)，這(zhe)也(ye)屬正常(chang)現象。可以(yi)在(zai)該檔上(shang)多切換(huan)幾(ji)次(ci)開(kai)關(guan)，使氧(yang)化層(ceng)變(bian)薄(bo)，增加(jia)接觸面(mian)積，再用儀器(qi)進(jin)行(xing)測(ce)試，可能(neng)會(hui)避免這種現象。

2、還有壹(yi)種現(xian)象就是超(chao)量程測(ce)試，如測試開關(guan)的過(guo)渡(du)電阻大於9Ω，而選(xuan)量程為9Ω時(shi)進(jin)行(xing)測(ce)量，結果(guo)會(hui)出(chu)現(xian)如圖二十壹所示的波形(xing)。 這時(shi)光(guang)標1所指示處的過(guo)渡(du)電阻有可能(neng)正常(chang)，光(guang)標2所指示處的過(guo)渡(du)電阻顯示為50.0Ω，這(zhe)是(shi)由於超量程所致(zhi)，只需把(ba)量程改(gai)為30Ω再(zai)進(jin)行(xing)測(ce)試即可。也(ye)可能(neng)過(guo)渡(du)過(guo)程中(zhong)間過(guo)程為平直(zhi)線(xian)均為50.0Ω，也(ye)是(shi)超量程所至，則(ze)也(ye)只需改(gai)變(bian)量程為30Ω即(ji)可。

3、當(dang)進(jin)行(xing)無繞(rao)組測量，沒有變(bian)壓(ya)器(qi)繞(rao)組的分布參數影(ying)響(xiang)，波(bo)形會比(bi)較接近理(li)論波形(xing)，當(dang)用(yong)戶所測波(bo)形(xing)曲線(xian)不平直(zhi)時(shi)，多(duo)數(shu)情(qing)況(kuang)為機械傳(chuan)動(dong)原(yuan)因(yin)，並(bing)不是開關(guan)或儀器(qi)測(ce)試有問題。如出(chu)現(xian)斷點(dian)，斷點(dian)處波形(xing)回(hui)到底(di)部(bu)，則(ze)要(yao)謹(jin)慎(shen)對(dui)待(dai)。

4、有時(shi)在(zai)開(kai)關(guan)切換(huan)時(shi)有瞬(shun)間斷點(dian)，這時波(bo)形即被(bei)壓成壹條(tiao)近似(si)平直(zhi)的直線(xian)，這種(zhong)情(qing)況(kuang)是本(ben)儀器(qi)處(chu)理所致(zhi)。當移動(dong)光(guang)標2讀三相波形曲(qu)線(xian)各點(dian)時，同(tong)樣能(neng)看(kan)到(dao)切換(huan)各(ge)時段電(dian)阻的變(bian)化(hua)，但這種情(qing)況(kuang)重(zhong)新測試。 當波形出(chu)現(xian)異(yi)常(chang)的下跳(tiao)點(dian)並(bing)且(qie)持續(xu)時(shi)間在(zai)2ms以(yi)上(shang)時，應(ying)檢(jian)查該處(chu)的電阻值，如(ru)果(guo)電(dian)阻值超(chao)過(guo)50Ω，很(hen)可能(neng)存在(zai)接觸不良或有松(song)動(dong)處，這(zhe)時(shi)，應(ying)反復(fu)進(jin)行(xing)多(duo)次(ci)測(ce)試，以便(bian)判斷。

有載(zai)開關(guan)測試儀技(ji)術(shu)指(zhi)標

符合DL/T846.8-2004標準

1、三路獨(du)立測試電源，輸(shu)出(chu)電(dian)流(liu)I≥1A；

2、儀(yi)器(qi)采(cai)樣率(lv)10KHZ；

3、單(dan)次(ci)波(bo)形zui大存儲(chu)時(shi)間268.8毫秒(miao)；

4、過(guo)渡(du)電阻測量範(fan)圍：0.1-200Ω；

5、電阻測量精度(du)：0.1～1 Δ R≤0.1Ω; 1Ω～200Ω(（不含1Ω）ΔR≤±1%。

6、時(shi)間測量精度(du)：ΔT≤0.1mS；

7、顯示器(qi)：320*240；

8、處理部(bu)分(fen)：高速(su)32位微(wei)處(chu)理器(qi)，儀(yi)器(qi)能(neng)保(bao)存100條(tiao)數(shu)據；`

9、高速(su)12位6通道同(tong)步A/D轉(zhuan)換(huan)器(qi)，zui高(gao)采樣率(lv)可達(da)250KHZ；

10、電(dian)源(yuan)：220V±10%，功率(lv)：200W。

11、主(zhu)機尺寸：380mm×262mm×120mm。