HLY-100A 智能回路(lu)電阻(zu)測(ce)試儀

產品描述(shu)：

       根據(ju)電(dian)力(li)設(she)備(bei)預防性(xing)試驗(yan)規程《 DL/T 596 — 1996 》的(de)要求(qiu)，各種開(kai)關設(she)備(bei)的(de)導電回(hui)路(lu)電(dian)阻測(ce)試，其(qi)測(ce)試電流不得(de)小(xiao)於(yu)100A。由(you)於(yu)接(jie)觸面氧化(hua)、接觸(chu)緊(jin)固不(bu)良等(deng)原因(yin)導(dao)致(zhi)接(jie)觸電阻增大，在大電流(liu)流(liu)過時，接(jie)觸(chu)點(dian)溫(wen)度(du)升(sheng)高(gao)，這(zhe)更(geng)加速接觸面(mian)氧化(hua)，使接(jie)觸(chu)電(dian)阻進(jin)壹步(bu)增(zeng)大，持續(xu)下去將產生(sheng)嚴重(zhong)事故(gu)，因(yin)此有(you)必(bi)要經常(chang)或(huo)定(ding)期(qi)對(dui)接觸電(dian)阻進(jin)行測(ce)量。

       回(hui)路電(dian)阻測(ce)試儀又稱(cheng)接(jie)觸電阻(zu)測(ce)試儀詳細(xi)介(jie)紹按新《電(dian)力(li)設(she)備(bei)交接(jie)和(he)預防(fang)性(xing)試驗(yan)規程》要求(qiu)，各種開(kai)關設(she)備(bei)導(dao)電(dian)回路(lu)電阻的(de)測(ce)量，其(qi)測(ce)試電流不得(de)小(xiao)於(yu)100A。對(dui)此我(wo)廠(chang)按新規程要求(qiu)設(she)計開(kai)發出新壹(yi)代(dai)智能回路(lu)電阻(zu)測(ce)試儀產品(pin)，該(gai)產品適用(yong)於(yu)測(ce)試高(gao)低(di)壓(ya)開(kai)關的(de)主觸頭接觸電阻(zu)值(zhi)，高(gao)低(di)壓(ya)電(dian)纜線路的(de)直流電(dian)阻(zu)值(zhi)等(deng)。

HLY智能回路(lu)電阻(zu)測(ce)試儀采用(yong)100A恒(heng)流輸(shu)出。輸出電壓(ya)達(da)10V（常(chang)規儀器的(de)2-3倍）可(ke)采用(yong)載(zai)面細的(de)測(ce)試線，大大減輕(qing)了現(xian)場(chang)測(ce)試人(ren)員(yuan)的(de)勞動強(qiang)度(du)。測(ce)試過程(cheng)全部由單(dan)片控(kong)制自(zi)動實施，精度(du)高(gao)，復測(ce)性(xing)好(hao)，單(dan)按鍵操(cao)作(zuo)，簡(jian)單(dan)易行(xing)，測(ce)試數(shu)據(ju)液(ye)晶顯(xian)示，結(jie)果(guo)打印(yin)。適用(yong)於(yu)不(bu)同的(de)工作(zuo)環(huan)境(jing)。
壹、技術(shu)指標(biao)

 1、測(ce)量範(fan)圍：0.1μΩ-1999μΩ 分(fen)辨(bian)率：1μΩ

2、測(ce)量電(dian)流：＞100A DC

3、測(ce)量精度(du)：0.5級

4、顯(xian)示方(fang)式：液晶顯(xian)示、結(jie)果(guo)打印(yin)

5、工(gong)作(zuo)溫(wen)度(du)：-10℃~50℃

6、工作(zuo)電(dian)流：AC220V±10%

7、體 積(ji)：290×280×240

8、重(zhong) 量：6.2Kg