多功能抗幹(gan)擾(rao)介(jie)質自(zi)動(dong)損(sun)耗(hao)測(ce)量儀 用於現(xian)場抗(kang)幹(gan)擾介(jie)損(sun)測(ce)量，或(huo)試驗室精(jing)密(mi)介(jie)損(sun)測(ce)量。儀器為(wei)壹(yi)體(ti)化(hua)結(jie)構，內置(zhi)介(jie)損(sun)電橋(qiao)、變(bian)頻(pin)電(dian)源(yuan)、試(shi)驗變(bian)壓(ya)器(qi)和(he)標準電(dian)容器等。采(cai)用變頻抗幹(gan)擾(rao)和(he)傅立葉(ye)變換(huan)數(shu)字濾波(bo)技術(shu)，全(quan)自(zi)動(dong)智能化(hua)測(ce)量，強幹擾(rao)下(xia)測(ce)量數(shu)據(ju)非(fei)常(chang)穩(wen)定。測(ce)量結(jie)果(guo)由大屏幕(mu)液晶顯(xian)示，自(zi)帶微(wei)型打(da)印機(ji)可(ke)打(da)印輸出。

抗幹(gan)擾(rao)介(jie)質自(zi)動(dong)損(sun)耗(hao)測(ce)量儀用於現(xian)場抗(kang)幹(gan)擾介(jie)損(sun)測(ce)量，或(huo)試驗室精(jing)密(mi)介(jie)損(sun)測(ce)量。儀器為(wei)壹(yi)體(ti)化(hua)結(jie)構，內置(zhi)介(jie)損(sun)電橋(qiao)、變(bian)頻(pin)電(dian)源(yuan)、試(shi)驗變(bian)壓(ya)器(qi)和(he)標準電(dian)容器等。采(cai)用變頻抗幹(gan)擾(rao)和(he)傅立葉(ye)變換(huan)數(shu)字濾波(bo)技術(shu)，全(quan)自(zi)動(dong)智能化(hua)測(ce)量，強幹擾(rao)下(xia)測(ce)量數(shu)據(ju)非(fei)常(chang)穩(wen)定。測(ce)量結(jie)果(guo)由大屏幕(mu)液晶顯(xian)示，自(zi)帶微(wei)型打(da)印機(ji)可(ke)打(da)印輸出。

變頻(pin)介(jie)質損(sun)耗測(ce)試(shi)儀用於現(xian)場抗(kang)幹(gan)擾介(jie)損(sun)測(ce)量，或(huo)試驗室精(jing)密(mi)介(jie)損(sun)測(ce)量。儀器為(wei)壹(yi)體(ti)化(hua)結(jie)構，內置(zhi)介(jie)損(sun)電橋(qiao)、變(bian)頻(pin)電(dian)源(yuan)、試(shi)驗變(bian)壓(ya)器(qi)和(he)標準電(dian)容器等。采(cai)用變頻抗幹(gan)擾(rao)和(he)傅立葉(ye)變換(huan)數(shu)字濾波(bo)技術(shu)，全(quan)自(zi)動(dong)智能化(hua)測(ce)量，強幹擾(rao)下(xia)測(ce)量數(shu)據(ju)非(fei)常(chang)穩(wen)定。測(ce)量結(jie)果(guo)由大屏幕(mu)液晶顯(xian)示，自(zi)帶微(wei)型打(da)印機(ji)可(ke)打(da)印輸出。

多功能變頻(pin)介(jie)質損(sun)耗測(ce)量儀用於現(xian)場抗(kang)幹(gan)擾介(jie)損(sun)測(ce)量，或(huo)試驗室精(jing)密(mi)介(jie)損(sun)測(ce)量。儀器為(wei)壹(yi)體(ti)化(hua)結(jie)構，內置(zhi)介(jie)損(sun)電橋(qiao)、變(bian)頻(pin)電(dian)源(yuan)、試(shi)驗變(bian)壓(ya)器(qi)和(he)標準電(dian)容器等。采(cai)用變頻抗幹(gan)擾(rao)和(he)傅立葉(ye)變換(huan)數(shu)字濾波(bo)技術(shu)，全(quan)自(zi)動(dong)智能化(hua)測(ce)量，強幹擾(rao)下(xia)測(ce)量數(shu)據(ju)非(fei)常(chang)穩(wen)定。測(ce)量結(jie)果(guo)由大屏幕(mu)液晶顯(xian)示，自(zi)帶微(wei)型打(da)印機(ji)可(ke)打(da)印輸出。

工(gong)業抗(kang)幹(gan)擾介(jie)質損(sun)耗測(ce)量儀用於現(xian)場抗(kang)幹(gan)擾介(jie)損(sun)測(ce)量，或(huo)試驗室精(jing)密(mi)介(jie)損(sun)測(ce)量。儀器為(wei)壹(yi)體(ti)化(hua)結(jie)構，內置(zhi)介(jie)損(sun)電橋(qiao)、變(bian)頻(pin)電(dian)源(yuan)、試(shi)驗變(bian)壓(ya)器(qi)和(he)標準電(dian)容器等。采(cai)用變頻抗幹(gan)擾(rao)和(he)傅立葉(ye)變換(huan)數(shu)字濾波(bo)技術(shu)，全(quan)自(zi)動(dong)智能化(hua)測(ce)量，強幹擾(rao)下(xia)測(ce)量數(shu)據(ju)非(fei)常(chang)穩(wen)定。測(ce)量結(jie)果(guo)由大屏幕(mu)液晶顯(xian)示，自(zi)帶微(wei)型打(da)印機(ji)可(ke)打(da)印輸出。

多功能抗幹(gan)擾(rao)介(jie)質損(sun)耗測(ce)量儀用於現(xian)場抗(kang)幹(gan)擾介(jie)損(sun)測(ce)量，或(huo)試驗室精(jing)密(mi)介(jie)損(sun)測(ce)量。儀器為(wei)壹(yi)體(ti)化(hua)結(jie)構，內置(zhi)介(jie)損(sun)電橋(qiao)、變(bian)頻(pin)電(dian)源(yuan)、試(shi)驗變(bian)壓(ya)器(qi)和(he)標準電(dian)容器等。采(cai)用變頻抗幹(gan)擾(rao)和(he)傅立葉(ye)變換(huan)數(shu)字濾波(bo)技術(shu)，全(quan)自(zi)動(dong)智能化(hua)測(ce)量，強幹擾(rao)下(xia)測(ce)量數(shu)據(ju)非(fei)常(chang)穩(wen)定。測(ce)量結(jie)果(guo)由大屏幕(mu)液晶顯(xian)示，自(zi)帶微(wei)型打(da)印機(ji)可(ke)打(da)印輸出。